Calculated X-ray Intensities Using Monte Carlo Algorithms: A Comparison to Experimental EPMA Data.
(05/04/2013)
Monte Carlo (MC) modeling has been used extensively to simulate electron scattering and x-ray emission from complex geometries. Here are presented comparisons between MC results and experimental electron-probe microanalysis (EPMA) measurements as well as phi(rhoz) correction algorithms. Experimental EPMA measurements made on NIST SRM 481 (AgAu) and 482 (CuAu) alloys, at a range of accelerating potential and instrument take-off angles, represent a formal microanalysis data set that has been widely used to develop phi(rhoz) correction algorithms. X-ray intensity data produced by MC simulations represents an independent test of both experimental and phi(rhoz) correction algorithms. The alpha-factor method has previously been...
Tác giả: Carpenter, P. K. |
Số trang: 2 |
Lĩnh vực: Vật lý |
Năm XB: 2005 |
Loại tài liệu: Khác
Tài liệu cần xác thực trước khi tải
Tiêu đề | Tải về |
| Số trang:
| Loại file:
|
miễn phí
|
© Copyright 2012 Trung tâm Thông tin Khoa học và Công nghệ - Sở Khoa học & Công nghệ TP. Cần Thơ
Địa chỉ: 118/3 Trần Phú - P.Cái Khế - Q.Ninh Kiều - TPCT
Điện thoại: 0292 3824031 Fax: 0292 3812352
|
|
Lượt truy cập:
(Website trong thời gian thử nghiệm)